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高速線陣CMOS探測,高速探測器類型：寬譜響應(yīng)高速近紅外探測器、寬譜響應(yīng)高速可見探測器、高靈敏高速可見探測器等。

SHG100非線性SHG測試系統(tǒng)電控位移臺：行程范圍20x20mm。支持同步觸發(fā)掃描，用于SHG成像。

雙光子吸收測試,Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100抖動(dòng)消除：參比雙通道信號同時(shí)采集；功率檢測范圍：50 nW-40 mW。

超快陰影泵浦探測,飛秒陰影泵浦探測,超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要利用調(diào)節(jié)pump和probe光之間的光程差來進(jìn)行測試。首先激光打在樣品上，樣品表面會(huì)產(chǎn)生一定程度的損毀，由于本過程很快（p...

晶圓位錯(cuò)缺陷檢測，MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)明場/PL檢測類型：明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。

鈣鈦礦組件效率優(yōu)化方案：鈣鈦礦疊層電池表征，鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統(tǒng)檢測時(shí)間＜10 min（10cm*10cm） 空間分辨率20 μm/100μm。

熒光壽命成像,晶圓位錯(cuò)缺陷檢測,SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng)：晶圓襯底質(zhì)量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質(zhì)量。

碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。

鈣鈦礦疊層電池表征,鈣鈦礦組件效率優(yōu)化方案,科研級鈣鈦礦材料-器件綜合光譜表征系統(tǒng)介紹： 高精度PL/EL強(qiáng)度、發(fā)射光譜,時(shí)間分辨PL,PLQE,QFLS,贗J-V氣 高分辨光電流/光電壓成像 ...

寬禁帶半導(dǎo)體材料表征，科研級寬禁帶半導(dǎo)體綜合表征系統(tǒng)介紹：TPL300-UV同時(shí)具備時(shí)間分辨、光譜分辨和空間分率功能。系統(tǒng)使用科研級正置顯微鏡和高精度XY位移臺，整體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,操作簡單,可以實(shí)現(xiàn)熒光壽...